南京邮电大学电光柔院半导体图示仪设备采购

采购需求概况

在片测试时,能有效地屏蔽光及电磁波干扰,可在常温环境下进行直流IV/CV参数（漏电流为fA级）提取；更详细地了解器件的性能。另外，能兼容对PCB 板，芯片的特性进行测试。可支持高精度IV 和 CV 测量及快速高电压脉冲测量。

同采购单位近期项目