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用于研究材料中活性金属元素的化学和电子结构信息。主要技术指标:X射线吸收精细结构谱(XAFS)能量范围覆盖4.9 keV ~20.5keV,X射线单色器布拉格角测量范围布拉格角范围:55°-85°
上海理工大学 · 2026-07-16
上海理工大学 · 2026-07-14